ウェーハレベル、単一ダイ、パッケージの形態で半導体デバイスをテスト・バーンイン・安定化するテストソリューションを提供する。低電力・高電力ロジックデバイスやメモリデバイス製造・認定テスト、デジタル信号プロセッサ、システムオンチップ、統合光デバイスなど複雑なデバイスのバーンイン・機能テストに使用される。